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雪迪龙TOF-SIMS国产化项目正式启动，开启高端分析仪器自主创新新篇章

2025年9月17日，一场承载着高端分析仪器自主化突破使命的盛会——雪迪龙飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）国产化项目启动仪式，在雪迪龙北京研发生产基地隆重举行。该项目的正式启动，不仅标志着雪迪龙在高端质谱仪器领域的国产化征程迈入关键阶段 ...
生物通

锂金属电极界面与中间相的ToF-SIMS溅射深度剖析：优化策略与涂层 ...

本研究针对锂金属负极在电池应用中面临的界面不稳定、枝晶生长等问题，通过ToF-SIMS（飞行时间二次离子质谱）溅射深度剖析技术，系统比较了Ar1500+、Cs+和Ar+等不同溅射离子对SEI（固体电解质中间相）和LiZn涂层的分析效果。研究发现500 eV Ar+能最佳解析SEI的 ...
生物通

利用飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）实现糖胺聚糖的高灵敏度分析 ...

本研究创新性地验证了飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）技术在糖胺聚糖（GAGs）分析中的应用效能。该方法可在1分钟内完成样本检测，仅需75皮克样本量，通过多元变量分析（MVA）实现了不同动物源肝素（HP）的精准鉴别（灵敏度达0.001 wt%）及污染物检测，为 ...
AZOM

Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

TOF-SIMS is a mass spectrometry technique in which a solid sample is bombarded by ions, which then release fragments of the surface molecules. The material ejected from the sample typically is from ...
Medicine Buffalo

Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer – ION TOF.SIMS Model 5-100

ION TOF. TOF-SIMS 5, Ultra high vacuum time-of-flight mass spectrometer for chemical imaging, ion intensity mapping, depth profiling, and static mass spectra. This equipment is engineered for the ...
AZoNano

Discover the ToF-qSIMS Workstation for Surface Analysis

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